Establecemos las bases para el estudio del efecto de una línea extendida de impurezas sobre una placa de grafeno. Mediante el uso de análisis dimensional y la propuesta de una ecuación de Poisson bidimensional, obtenemos las formas funcionales del potencial y la densidad electrónica de este problema.
Palabras clave: Grafeno análisis dimensional Thomas-Fermi delta-dopado densidad electrónica potencial.
2013-06-18 | 677 visitas | Evalua este artículo 0 valoraciones
Vol. 5 Núm.2. Mayo-Octubre 2013 Pags. 17-26 Nova Scientia 2013; 5(2)